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翻盖 DFN 芯片 DFN8
DFN8 QFN8 CNV-DFN8-DIP8 DFN8X6-8 (10P) IC 芯片烧录座翻盖式
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耐高温老化 QFN 芯片
QFN3X3-16L(0.5)/QFN16/DFN16芯片烧录座耐高温老化测试座编程座
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翻盖读写芯片测试
DFN8 QFN8 WSON8 USON8芯片读写烧录测试 1.27 6X8 5X6 翻盖IC座
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探针下压现货测试
DFN8 2×3测试座 WSON8-0.5探针座 QFN8下压探针烧录座WSON8 现货
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老化耐高温镀金测试
DFN8/SON8/WSON8/QFN8-1.27老化测试座烧录座镀金耐高温老化
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翻盖芯片测试 WSON8
QFN8测试座WSON8 MLF8 DFN8芯片DIP8翻盖6*8 5*6烧录座6X8 5X6
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老化耐高温镀金测试
DFN6烧录座DFN2X2-6L(0.65)转DIP老化测试座带板镀金耐高温老化座
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翻盖读写芯片测试
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转接老化 DFN 3.3
DFN8/DFN3.3X3.3-8L(0.65)IC芯片烧录座老化测试座编程座转接DIP8
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老化芯片编程测试
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老化 QFN 芯片 28
QFN28/QFN4X4-28L(0.4)/DFN28芯片老化测试座IC烧录座烧写编程座
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接地间距老化 DFN
DFN10/DFN3X3-10L(0.5)芯片IC烧录老化测试编程座间距0.5mm带接地
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