适配器芯片F103C8T6测试
适配器F103C8T6编程测试
LQPFP48编程测试TQFP32
编程器间距测试ARIES
微控制器MICROCHIPDIP40
时钟251模块PM
时钟原装129芯片
时钟原装M48T512AY模块
间距老化0.8测试
封装10W1KJD9FFC1KJ
LQPFP48QFP32DIP32DIP48编程测试
探针翻盖芯片HMILUBGA
间距翻盖编程TQFP32
SN74LS00N芯片DIP138